Microscópio metalográfico vertical computadorizado HST301-EW

O microscópio metalográfico vertical computadorizado HST301-EW oferece aos clientes análises metalográficas econômicas e soluções de inspeção industrial com excelente sistema de imagem e conforto.

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Visão geral do produto:

O microscópio metalográfico vertical computadorizado HST301-EW oferece aos clientes análises metalográficas econômicas e soluções de inspeção industrial com excelente sistema de imagem e experiência de operação confortável. A estrutura adota o tubo de observação com o melhor ângulo confortável da cama do recém-nascido, o que pode aliviar a tensão e o cansaço dos usuários em condições de trabalho de longo prazo e garantir o melhor estado de observação. A escala no tubo de observação é conveniente para os usuários ajustarem sozinhos a faixa ideal de distância da pupila.

O microscópio metalográfico vertical computadorizado HST301-EW integra um host de microscópio estável, um dispositivo de câmera de alta definição e um software genuíno de análise de imagem metalográfica, que pode fornecer aos usuários uma gama completa de soluções eficientes de detecção e análise de estrutura metalográfica.

Este microscópio é amplamente utilizado na análise da estrutura metalográfica de materiais metálicos (incluindo perlita, taxa de esferoidização, tamanho de grão, morfologia de grafite, etc.), análise metalográfica de ensino e pesquisa científica, medição de engenharia de precisão e outros campos. É uma ferramenta indispensável e importante na ciência dos materiais, engenharia metalúrgica, fabricação de máquinas e outras indústrias.

Função de memória de brilho

A função de memória de brilho pode memorizar o brilho da iluminação ao usar cada lente objetiva e ajustar automaticamente a intensidade da luz quando diferentes lentes objetivas são trocadas.

Todas as séries de objetivas de campo claro semi-apocromáticas

As objetivas utilizam lentes de alta transmitância e tecnologia de revestimento avançada para restaurar verdadeiramente a cor natural da amostra. O design semi-apocromático possui excelente desempenho de correção de aberração cromática, o que melhora o contraste e a clareza da imagem observada.

Câmera com chip Sony de alta definição

A câmera é uma câmera CMOS de montagem C com um sensor Sony CMOS, uma câmera de microscópio metalográfico ideal para imagens de microscopia de campo claro, campo escuro, polarizado, com pouca luz e fluorescência de alta qualidade, adequada para aplicações de ciência de materiais.

Costura de imagem

O software de medição de imagem pode ser realizado movendo o palco. O processo de costura manual de imagens pode realizar a função de costura de imagens de diferentes ampliações para obter uma imagem nítida com um grande campo de visão.

Fusão de profundidade de campo em tempo real

A função de síntese de profundidade de campo no software de medição de imagem permite que você gire o microscópio para ajustar diferentes pontos de profundidade de campo enquanto a câmera expande imediatamente a profundidade de campo da imagem microscópica em tempo real. Os detalhes de todo o quadro ficam nítidos à primeira vista e você nunca mais verá imagens borradas!

Parâmetros Técnicos

Nome

Especificação

Sistema óptico

Sistema óptico corrigido com aberração cromática infinita

Tubo de observação

Inclinação de 30 °, tubo de observação de três vias com dobradiça infinita, ajuste de distância da pupila: 50 mm ~ 75 mm, ajuste de dioptria de lado único: -2 / + 8 dioptrias, taxa de divisão de duas velocidades R: T = 100: 0 ou 50:50

Ocular

Ponto de visão alto e amplo campo de visão ocular de campo plano SWH10X/23mm (dioptria ajustável)

Objetivo

Objetiva de campo brilhante metalográfico semicomposto de campo plano 5X/NA0.15 WD15

Objetiva de campo brilhante metalográfico semicomposto de campo plano 10X/NA0.30 WD8.4

Objetiva de campo brilhante metalográfico semicomposto de campo plano 20X/NA0.45 WD3.0

Objetiva de campo brilhante metalográfico semicomposto de campo plano 50X/NA0.75 WD3.0

Objetiva de campo brilhante metalográfico semicomposto de campo plano 100X/NA0.90 WD1.0(opcional)

Conversor de lente objetiva

Conversor de campo brilhante de 5 furos de posicionamento interno de alta precisão, função de memória de brilho.

Mecanismo de focagem

Mecanismo de foco coaxial grosso e fino de posição baixa, curso de ajuste grosso 30mm,precisão de ajuste fino 0,001 mm. Com dispositivo de tensão de ajuste para evitar escorregões e dispositivo de limite superior aleatório. Com mecanismo de ajuste de posição para cima e para baixo da plataforma, altura máxima da amostra 40mm.

Palco

Plataforma móvel mecânica de camada dupla, posição baixa X, ajuste coaxial de direção Y; área da plataforma 240X175mm, superfície de trabalho: 135X125mm, faixa móvel: 75mmX50mm, pode ser equipada com estágio de metal para reflexão.

Sistema de iluminação refletida

Ampla tensão adaptativa 100V-240V_AC50/60Hz, sala de lâmpada reflexiva, 10WLED único de alta potência, cor quente, iluminação Kohler, com diafragma de campo e diafragma de abertura, centro ajustável,

Componente polarizador

Analisador, polarizador.

Outros acessórios

Acessórios fotográficos: montagem C 0,5X, foco ajustável;

Câmera Sony chip FEG de 12 megapixels, sistema de imagem de computador FCL-RS

Software de análise de imagem metalográfica FMIA2025, micrômetro de alta precisão (valor de grade 0,01 mm)

Computador

Computador empresarial de marca(opcional)

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